x射線鍍層測(cè)厚儀在檢測(cè)時(shí)具有什么原理？
x射線鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測(cè)厚儀的主要測(cè)量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
x射線鍍層測(cè)厚儀的工作原理：
x射線鍍層測(cè)厚儀是通過X射線激發(fā)各種物質(zhì)(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線，然后測(cè)量這被釋放出來的特征X射線的能量對(duì)樣品進(jìn)行進(jìn)行定性，測(cè)量這被釋放出來的特征X射線的強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)片(或者對(duì)比樣)對(duì)比得出各物質(zhì)的厚度，這種強(qiáng)度和厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系在軟件后臺(tái)形成曲線。而各種物質(zhì)的強(qiáng)度增加，厚度值也增加，但不是直線關(guān)系；通過標(biāo)樣和軟件及算法(算法有FP法和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法)得到一個(gè)接近實(shí)際對(duì)應(yīng)關(guān)系的曲線。
x射線鍍層測(cè)厚儀的特點(diǎn)：
1、一次可同時(shí)分析24個(gè)元素。
2、任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
3、相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
4、多變量非線性回收程序。
5、專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)。
6、針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器。
7、智能貴金屬檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰。
8、內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍以上。
